11)动态测试续流二极管
用于防止测试过程中的过电压。
?压降小于1V
?浪涌电流大于20kA
?反向恢复时间小于2μs
?工作温度室温~40℃
?工作湿度<70%
12)安全工作区测试续流二极管
?浪涌电流大于20kA
?反向恢复时间小于2μS
?工作温度室温~40℃
?工作湿度<70%
13)被测器件旁路开关
被测安全接地开关,设备不运行时,被测接地。
?电流能力DC 50A
?隔离耐压15kV
?响应时间150ms
?工作方式气动控制
?工作气压0.4MPa
?工作温度室温~40℃
?工作湿度<70%
3.6VCES集射较截止电压0~5000V集电极电流ICES:0.01~1mA±3%±0.001mA;1~10mA±2%±0.01mA;10~50mA±1%±0.1mA;集电极电压VCES:0-5000V±1.5%±2V;*3.7 ICES集射较截止电流0.01~50mA集电极电压VCES:50~500V±2%±1V;500~5000V±1.5%±2V;集电极电流ICES:0.001~1mA±3%±0.001mA;1~10mA±2%±0.01mA;10~150mA±1%±0.1mA;*3.8VCE(sat)饱和导通压降0.001~10V集电极电流ICE:0-1600A集电极电压VCEs:0.001~10V±0.5%±0.001V栅较电压Vge:5~40V±1%±0.01V集电极电流ICE:0~100A±1%±1A;100~1600A±2%±2A;*3.9Iges栅较漏电流0.01~10μA栅较漏电流IGEs:0.01~10μA±2%±0.005μA栅较电压Vge:±1V~40V±1%±0.1V;Vce=0V;*3.10VF正向特性测试0.1~5V二极管导通电压Vf:0.1~5V±1%±0.01V电流IF:0~100A±2%±1A;100~1600A±1.5%±2A;
静态及动态测试系统技术规范供货范围一览表序号名称型号单位数量1半导体静态及动态测试系统HUSTEC-2010套11范围本技术规范提出的是限度的要求,湖南便携式IGBT测试仪,并未对所有技术细节作出规定,便携式IGBT测试仪价格,也未充分引述有关标准和规范的条文,供货方应提供符合工业标准和本技术规范的产品。本技术规范所使用的标准如遇与供货方所执行的标准不一致时,应按较高标准执行。