表格12动态参数测试部分组成
序号组成部分单位数量
1可调充电电源套1
2直流电容器个8
3动态测试负载电感套1
4安全工作区测试负载电感套1
5补充充电回路限流电感L个1
6短路保护放电回路套1
7正常放电回路套1
8高压大功率开关个5
9尖峰抑制电容个1
10主回路正向导通晶闸管个2
11动态测试续流二极管个2
12安全工作区测试续流二极管个3
13被测器件旁路开关个1
14工控机及操作系统套1
15数据采集与处理单元套1
16机柜及其面板套1
17压接夹具及其配套系统套1
18加热装置套1
19其他辅件套1
测试参数多且完整、应用领域更广泛,大功率IGBT测试仪,但只要使用其基本的2项功能:「开启」电流压降,「关闭」电流的漏电流,就可知道大功半导体有没有老化的现象。
?可移动型仪器,使用方便,IGBT测试仪直供,测试简单快速,立即提供测试结果与数值。
?适用的半导体元件种类多,IGBT测试仪加工,尤其能测大功率元件。
?用户能确实掌握新采购元件的质量,避免用到瑕疵或品。
?完全由计算机控制、快速的设定参数。
?适用于实验室和老化筛选的测试。
?操作非常简单、速度快。
?完全计算机自动判断、自动比对。
欲测知元件老化,辽宁IGBT测试仪,所须提供的测量范围为何?当大功率元件在作导通参数的测试时,电流必须大到其所能承受的正常工作值,同时,在作关闭参数的漏电流测试时,电压也必须够高,以元件在真正工作状态下的电流与电压,如此其老化的程度才可显现。当这两个参数通过后,便表示元件基本上良好,再进一步作其他参数的测量,以分辨其中的优劣。建议进行高温测试,模拟器件使用工况,更为准确的判断器件老化程度。